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隆安
2025-11-19 09:58:37
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價(jià)更優(yōu)！ 馬上咨詢
譯碼器及其應(yīng)用試驗(yàn)箱是高溫老化環(huán)境測(cè)試中驗(yàn)證數(shù)字電路可靠性的核心設(shè)備，選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度均勻性、控制精度及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)、具備伺服控制系統(tǒng)的設(shè)備，避免因參數(shù)虛標(biāo)或設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致測(cè)試失效。
| 問(wèn)題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | -70℃~+300℃（工業(yè)級(jí)設(shè)備） |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 溫度均勻性±2℃、分辨率 ℃、采樣率≥10次/秒 |
| 核心標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-14、GB/T |
| 價(jià)格區(qū)間（參考） | 8萬(wàn)~50萬(wàn)元（根據(jù)容積與精度） |
| 推薦廠商篩選條件 | 具備CNAS認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室、提供FAT/SAT驗(yàn)收?qǐng)?bào)告 |
試驗(yàn)?zāi)康?/strong>
驗(yàn)證譯碼器芯片在高溫老化環(huán)境下的電氣性能穩(wěn)定性，模擬長(zhǎng)期工作后的失效模式（如金屬遷移、氧化層擊穿）。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括汽車電子、航空航天及工業(yè)控制領(lǐng)域。
關(guān)鍵參數(shù)與失效機(jī)理
實(shí)操參數(shù)表
| 參數(shù) | 工業(yè)級(jí)要求 | 實(shí)驗(yàn)室級(jí)要求 | 失效臨界值 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | -40℃~+150℃ | -70℃~+300℃ | ±5℃偏差 |
| 濕度控制 | 無(wú)強(qiáng)制要求 | 10%~95%RH | 冷凝導(dǎo)致短路 |
| 負(fù)載能力 | ≥500W/m3 | ≥1kW/m3 | 加熱管過(guò)載 |
選型五步法
詢價(jià)模板
| 階段 | 關(guān)鍵動(dòng)作 |
|---|---|
| 需求確認(rèn) | 明確測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、試樣數(shù)量、預(yù)算范圍 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 鎖定溫度范圍、控制方式、安全功能等核心參數(shù) |
| 報(bào)價(jià)對(duì)比 | 對(duì)比3家以上廠商報(bào)價(jià)，剔除參數(shù)虛標(biāo)者 |
| FAT驗(yàn)收 | 現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證溫度均勻性、報(bào)警功能，記錄數(shù)據(jù)偏差 |
| 安裝調(diào)試 | 檢查設(shè)備接地、通風(fēng)系統(tǒng)，培訓(xùn)操作人員 |
| 計(jì)量校準(zhǔn) | 每年一次由第三方機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)，保存校準(zhǔn)證書(shū) |
| 維保記錄 | 建立故障日志，定期更換加熱管、傳感器等易損件 |
| 廠商/型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積（m3） | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LA-HT300 | -70℃~+300℃ | 無(wú) | ± ℃ | IEC 60068-2-14 | 伺服控制、遠(yuǎn)程監(jiān)控 | |
| 艾德克斯ITS-800 | -40℃~+150℃ | 20%~95% | ± ℃ | GB/T | 觸摸屏操作、數(shù)據(jù)追溯 | |
| 日立HT-2000 | -60℃~+200℃ | 無(wú) | ±2℃ | MIL-STD-810G | 多段編程、應(yīng)急冷卻系統(tǒng) |
典型故障
維護(hù)清單
Q1：試驗(yàn)箱溫度均勻性不達(dá)標(biāo)怎么辦？
A：首先檢查風(fēng)道是否堵塞，其次用標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)多點(diǎn)測(cè)量（上中下層），最后聯(lián)系廠商調(diào)整PID參數(shù)。若仍無(wú)法解決，需更換加熱模塊或循環(huán)風(fēng)機(jī)。
Q2：如何驗(yàn)證廠商提供的參數(shù)真實(shí)性？
A：要求提供CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室的校準(zhǔn)報(bào)告，或委托第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)抽檢（依據(jù)GB/T 8170-2008數(shù)值修約規(guī)則）。
Q3：試驗(yàn)箱能否用于其他電子元件測(cè)試？
A：可兼容測(cè)試尺寸≤試驗(yàn)箱容積80%的元件，但需確認(rèn)溫度范圍是否覆蓋目標(biāo)元件的極限工況（如IGBT模塊需-40℃~+175℃）。
Q4：進(jìn)口設(shè)備與國(guó)產(chǎn)設(shè)備的差異在哪？
A：進(jìn)口設(shè)備（如日立HT-2000）在長(zhǎng)期穩(wěn)定性上占優(yōu)，但國(guó)產(chǎn)設(shè)備（如隆安LA-HT300）性價(jià)比更高，且維修響應(yīng)更快。
Q5：試驗(yàn)箱使用中突然停電如何處理？
A：立即關(guān)閉總電源，待恢復(fù)供電后先手動(dòng)啟動(dòng)通風(fēng)系統(tǒng)10分鐘再升溫，避免局部過(guò)熱損壞試樣。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異，為確保高效匹配需求，請(qǐng)您向我說(shuō)明測(cè)試要求，我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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