供應(yīng)光衰試驗箱廠家,專業(yè)供應(yīng)光衰試驗箱

隆安
2025-11-22 14:21:03
753

內(nèi)容摘要：1. 導讀光衰試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度均勻性、負載容量及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標準、具備伺服控制系統(tǒng)的廠...

老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格，品質(zhì)售后雙保障，廠家直供價更優(yōu)！馬上咨詢

1. 導讀

光衰試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備，選型需重點關(guān)注溫度均勻性、負載容量及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合IEC 60068-2-78標準、具備伺服控制系統(tǒng)的廠商，并通過FAT/SAT驗收流程規(guī)避質(zhì)量風險。

3. 快速答案卡片

問題	答案
推薦溫度范圍	80℃~150℃（LED行業(yè)典型值）
核心標準	IEC 60068-2-78、GB/T
關(guān)鍵參數(shù)優(yōu)先級	溫度均勻性＞負載容量＞控制精度
采購避坑點	拒絕無FAT/SAT流程的供應(yīng)商

4. 正文結(jié)構(gòu)

試驗?zāi)康呐c典型工況

光衰試驗箱用于模擬LED、半導體器件在高溫環(huán)境下的光通量衰減過程，驗證材料耐熱性與封裝可靠性。典型應(yīng)用場景包括：

LED燈具老化：測試1000小時后光效衰減率≤5%（依據(jù)IEC 62717）
半導體封裝：評估高溫下焊點蠕變與界面脫層風險
光伏組件：檢測EVA膠膜在85℃/85%RH條件下的黃變指數(shù)

失效機理：高溫加速熱應(yīng)力導致材料膨脹系數(shù)失配，引發(fā)微裂紋擴展或界面分離。

關(guān)鍵參數(shù)解析

參數(shù)	定義	典型值	行業(yè)要求
溫度均勻性	工作區(qū)內(nèi)各點溫差	±2℃	IEC 60068-2-78
負載容量	單層可放置樣品數(shù)量	50~200pcs	依試樣尺寸而定
控制方式	伺服（PID）vs 液壓	伺服占90%	伺服響應(yīng)更快
安全聯(lián)鎖	超溫/過流保護	必須配置	GB

選型決策流程

明確需求：
- 試樣尺寸（如LED燈珠：10mm×10mm）
- 溫度范圍（推薦120℃±2℃）
- 測試周期（連續(xù)運行≥1000小時）
技術(shù)驗證：
- 要求供應(yīng)商提供第三方校準證書（如CNAS認可實驗室）
- 實地考察設(shè)備運行案例（優(yōu)先選擇有汽車電子客戶經(jīng)驗的廠商）

詢價模板：
####

供應(yīng)商對比表

廠商	溫度范圍	濕度范圍	容積選項	控制精度	附加特性
隆安老化	RT~180℃	20%~98%RH	3/ 3	± ℃	遠程監(jiān)控
韋爾測試	RT~150℃	不支持	3	±1℃	數(shù)據(jù)追溯
賽寶實驗室	RT~200℃	30%~80%RH	3	± ℃	振動疊加

### 5. 采購全流程Checklist 1. **需求確認**：填寫《技術(shù)規(guī)格書》并由工程師簽字 2. **技術(shù)協(xié)議**：明確驗收標準（如溫度波動度≤± ℃） 3. **報價對比**：要求分項報價（設(shè)備/運輸/安裝） 4. **FAT（工廠驗收）**： - 測試溫度均勻性（9點法） - 驗證安全聯(lián)鎖功能 5. **SAT（現(xiàn)場驗收）**：連續(xù)運行72小時無故障 6. **計量校準**：每年由省級計量院實施（依據(jù)JJF 1101） ### 6. 常見故障與維護

故障現(xiàn)象	可能原因	解決方案
溫度超調(diào)	PID參數(shù)失調(diào)	重新自整定
加熱管損壞	長期過載運行	更換并檢查負載
傳感器漂移	環(huán)境振動干擾	每年校準一次

### 7. FAQ **Q1：光衰試驗箱與普通高溫箱的區(qū)別？** A：光衰箱需配備積分球或光通量測試模塊，且溫度控制精度更高（± ℃ vs ±2℃）。 **Q2：如何驗證設(shè)備均勻性？** A：按IEC 60068-2-78要求，在工作區(qū)布置9個測溫點，記錄穩(wěn)態(tài)后30分鐘數(shù)據(jù)，計算最大溫差。 **Q3：國產(chǎn)與進口設(shè)備的差異？** A：國產(chǎn)設(shè)備性價比高（價格低30%~50%），但進口設(shè)備（如ESPEC）在長期穩(wěn)定性上更優(yōu)。 ### 8. 外部參考 - 中國電器科學研究院《環(huán)境試驗設(shè)備校準規(guī)范》 - IEC官網(wǎng)“Environmental testing”欄目 ### 9. 聲明 ### 10. JSON-LD