華智試驗(yàn)箱rfid-華智試驗(yàn)箱RFID精準(zhǔn)管理

內(nèi)容摘要：1. 導(dǎo)讀2. 目錄快速答案卡片華智試驗(yàn)箱RFID技術(shù)解析試驗(yàn)?zāi)康呐c典型工況關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn) 選型決策流程選型對(duì)比表采購(gòu)與驗(yàn)收Checklist F...

老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家

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1. 導(dǎo)讀

問(wèn)題	答案
華智試驗(yàn)箱RFID核心參數(shù)？	溫度范圍：RT+10℃~300℃，精度±1℃，RFID讀寫(xiě)距離≥5cm
選型關(guān)鍵指標(biāo)？	負(fù)載容量、溫度均勻性、控制方式（PID伺服）、安全聯(lián)鎖
常見(jiàn)故障及解決？	溫度超差→檢查加熱管；RFID斷連→更換天線模塊
采購(gòu)流程核心步驟？	需求確認(rèn)→技術(shù)協(xié)議→FAT/SAT→計(jì)量校準(zhǔn)→維保簽約

華智試驗(yàn)箱RFID主要用于電子元器件、汽車(chē)零部件、航空航天材料的高溫老化測(cè)試，模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)期高溫環(huán)境下的性能衰減。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：

核心參數(shù)表

適用標(biāo)準(zhǔn)

需求確認(rèn)：明確試樣尺寸（如PCB板長(zhǎng)寬）、負(fù)載數(shù)量（如同時(shí)測(cè)試50個(gè)樣品）、測(cè)試周期（如72h連續(xù)運(yùn)行）。
參數(shù)匹配：根據(jù)溫度范圍選擇設(shè)備型號(hào)（如HZ-300A型支持300℃）。
控制方式選擇：優(yōu)先PID伺服控制，避免液壓系統(tǒng)響應(yīng)延遲。
安全聯(lián)鎖驗(yàn)證：檢查超溫保護(hù)、門(mén)鎖互鎖、漏電保護(hù)功能。
RFID兼容性：確認(rèn)設(shè)備支持ISO 15693或EPC Gen2協(xié)議。

詢價(jià)模板

選型對(duì)比表

型號(hào)	溫度范圍	濕度范圍	容積	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
HZ-200A	RT+10~200℃	20%~98%RH	300L	± ℃	GB/T	遠(yuǎn)程監(jiān)控
HZ-300B	RT+10~300℃	無(wú)濕度	800L	±1℃	IEC 60068-2-2	多通道RFID
HZ-150C	RT+10~150℃	30%~85%RH	200L	±2℃	ISO 16750-4	數(shù)據(jù)追溯

需求階段：明確試樣類(lèi)型、測(cè)試周期、預(yù)算范圍。
技術(shù)協(xié)議：確認(rèn)參數(shù)偏差允許值（如溫度超差≤±2℃）。
報(bào)價(jià)對(duì)比：對(duì)比設(shè)備價(jià)、運(yùn)輸費(fèi)、安裝調(diào)試費(fèi)。
FAT（工廠驗(yàn)收）：
- 空載升溫速率測(cè)試（如5℃/min）。
- RFID讀寫(xiě)成功率≥ %。
SAT（現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)收）：
- 負(fù)載運(yùn)行72h無(wú)故障。
- 計(jì)量校準(zhǔn)證書(shū)（第三方機(jī)構(gòu)如CNAS）。
維保簽約：明確備件供應(yīng)周期（如加熱管48h響應(yīng)）。