

隆安
2025-11-26 14:08:21
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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THT試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設備,選型需重點關(guān)注溫度范圍、控制精度、負載能力及安全聯(lián)鎖設計。工程師需結(jié)合標準(如IEC 60068-2-2、GB/T )與實際工況,通過參數(shù)對比、驗收清單及采購流程管控,規(guī)避低價陷阱與性能虛標風險。
表1:THT試驗箱關(guān)鍵參數(shù)定義
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱內(nèi)可穩(wěn)定運行的最低至最高溫度 | -20℃~300℃ |
| 溫度均勻性 | 箱內(nèi)各點與設定值的最大偏差 | ≤±2℃(空載) |
| 負載能力 | 箱內(nèi)可承載的最大試樣重量 | 50~500kg |
| 控制方式 | 伺服控制(動態(tài)響應快) vs PID控制(成本低) | 伺服優(yōu)先 |
| 采樣率 | 溫度傳感器數(shù)據(jù)采集頻率 | ≥1次/秒 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫、過流、門鎖異常等保護機制 | 必備 |
典型工況:電子元件高溫老化(125℃/48h)、汽車線束耐熱測試(150℃/24h)、軍工產(chǎn)品熱沖擊(-40℃~150℃循環(huán))。
步驟1:明確測試需求
步驟2:參數(shù)匹配表
| 需求場景 | 優(yōu)先級參數(shù) | 示例標準 |
|---|---|---|
| 電子元件老化 | 溫度均勻性、負載能力 | IEC 60068-2-2 |
| 汽車零部件測試 | 溫度范圍、升溫速率 | GB/T |
| 軍工產(chǎn)品驗證 | 安全聯(lián)鎖、循環(huán)次數(shù) | GJB |
步驟3:詢價模板
| 廠商 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積選項 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安科技 | -20℃~300℃ | 10%~95%RH | ~2m3 | ± ℃ | IEC 60068-2-2, GB/T 2423 | 遠程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 泰格環(huán)境 | -40℃~200℃ | 無濕度 | ~ 3 | ±1℃ | GB/T | 應急停機按鈕 |
| 賽默飛世爾 | RT~250℃ | 20%~80%RH | ~3m3 | ± ℃ | ASTM D573 | 多語言界面 |
表2:常見故障與解決方案
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 升溫緩慢 | 加熱管老化、風道堵塞 | 更換加熱管,清潔風道濾網(wǎng) |
| 溫度超調(diào) | PID參數(shù)失調(diào)、傳感器偏差 | 重新整定PID,校準溫度傳感器 |
| 安全聯(lián)鎖觸發(fā) | 門鎖未關(guān)緊、超溫保護 | 檢查門鎖,降低設定溫度 |
維護周期表
Q1:THT試驗箱與HAST試驗箱的區(qū)別?
A1:THT(高溫試驗)側(cè)重長期耐熱性,溫度≤300℃;HAST(高壓加速老化)通過高溫高濕(130℃/85%RH/2atm)縮短測試周期,適用于半導體封裝。
Q2:如何驗證溫度均勻性?
A2:按IEC 60068-2-2要求,在空載狀態(tài)下布置9個測溫點(中心及四角),運行至穩(wěn)定狀態(tài)后記錄1h數(shù)據(jù),計算最大偏差。
Q3:低價設備可能存在哪些隱患?
A3:溫度均勻性虛標(實際偏差>±5℃)、安全聯(lián)鎖缺失、加熱管功率不足導致升溫失敗。
Q4:伺服控制與PID控制的差異?
A4:伺服控制通過編碼器反饋實時調(diào)整,溫度波動<± ℃;PID控制依賴經(jīng)驗參數(shù),波動可能達±2℃。
Q5:是否需要配置濕度功能?
A5:若測試標準包含濕熱交替(如GB/T ),需選擇溫濕度一體機;純高溫測試可省去濕度模塊。
因老化試驗設備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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