

隆安
2025-11-28 09:37:24
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
宿遷地區(qū)高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱選型需聚焦溫度范圍、控制精度、負(fù)載容量及安全標(biāo)準(zhǔn),價(jià)格受容積(50L–2000L)、溫變速率(1–20℃/min)及合規(guī)性(GB/T 2423、IEC 60068)影響。建議通過技術(shù)協(xié)議明確驗(yàn)收條款,優(yōu)先選擇支持FAT/SAT(工廠/現(xiàn)場驗(yàn)收)的廠商,避免低價(jià)陷阱。
| 項(xiàng)目 | 關(guān)鍵信息 |
|---|---|
| 基礎(chǔ)價(jià)格 | 50L機(jī)型約¥8萬–12萬;2000L機(jī)型¥35萬–60萬(2025年宿遷市場) |
| 核心參數(shù) | 溫度范圍:-70℃~+180℃;精度± ℃;負(fù)載≤50kg/m3 |
| 推薦標(biāo)準(zhǔn) | GB/T (低溫)、GB/T (高溫)、IEC 60068-2-1/2 |
| 避坑要點(diǎn) | 拒絕無安全聯(lián)鎖(超溫/過載保護(hù))的低價(jià)設(shè)備;優(yōu)先選擇支持遠(yuǎn)程監(jiān)控的型號(hào) |
| 參數(shù) | 定義與指標(biāo) |
|---|---|
| 負(fù)載容量 | 試樣密度≤50kg/m3(過高負(fù)載導(dǎo)致空氣循環(huán)受阻,溫場均勻性下降) |
| 控制方式 | 伺服PID控制(精度± ℃)優(yōu)于液壓控制(±2℃),適用于精密電子測試 |
| 采樣率 | ≥1次/秒(高采樣率可捕捉瞬態(tài)溫變,避免過沖) |
| 安全聯(lián)鎖 | 必須包含超溫報(bào)警、門鎖聯(lián)動(dòng)、壓縮機(jī)過載保護(hù)(參考GB/T 10592-2008 條款) |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 容積(L) | 精度(℃) | 溫變速率(℃/min) | 符合標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|---|---|---|
| LX-50 | -70~+150 | 50 | ± | 3 | GB/T 2423, IEC 60068 |
| LX-500 | -40~+180 | 500 | ± | 5 | MIL-STD-810G |
| LX-2000 | -70~+180 | 2000 | ± | 8 | ASTM D4332 |
| 項(xiàng)目 | 周期 | 操作內(nèi)容 |
|---|---|---|
| 濾網(wǎng)清潔 | 每月 | 拆除進(jìn)風(fēng)口濾網(wǎng),用壓縮空氣吹掃(避免堵塞導(dǎo)致風(fēng)量下降) |
| 制冷劑檢查 | 每半年 | 檢測R404A/R23壓力(低壓 – ,高壓 – ) |
| 電氣安全 | 每年 | 檢測接地電阻≤4Ω,絕緣電阻≥1MΩ(參考GB/T ) |
| 廠商 | 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安實(shí)驗(yàn)設(shè)備 | LA-500 | -70~+180 | 10%–98%RH | 500 | ± ℃ | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 |
| 蘇科環(huán)境 | SK-300 | -40~+150 | 20%–95%RH | 300 | ± ℃ | 觸摸屏操作、USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出 |
| 宿遷儀器廠 | SX-1000 | -60~+160 | 無濕度控制 | 1000 | ± ℃ | 手動(dòng)調(diào)節(jié)、基礎(chǔ)報(bào)警功能 |
Q1:如何判斷試驗(yàn)箱溫場均勻性是否達(dá)標(biāo)?
A:在空載狀態(tài)下,將9個(gè)溫度傳感器布置于工作空間上、中、下三層(每層3點(diǎn)),運(yùn)行至設(shè)定溫度后穩(wěn)定1小時(shí),記錄數(shù)據(jù)。最大溫差≤2℃為合格(參考GB/T 10592-2008 條款)。
Q2:低價(jià)設(shè)備可能存在哪些隱患?
A:① 使用二手壓縮機(jī)(噪音大、能耗高);② 省略安全聯(lián)鎖(超溫時(shí)無法自動(dòng)停機(jī));③ 控制板采用非工業(yè)級(jí)芯片(易死機(jī))。
Q3:試驗(yàn)箱校準(zhǔn)周期如何確定?
A:根據(jù)使用頻率,建議每6–12個(gè)月校準(zhǔn)一次。若用于計(jì)量認(rèn)證(如CNAS),需按《計(jì)量法》規(guī)定每年校準(zhǔn)。
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請(qǐng)您向我說明測試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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