

隆安
2025-12-03 09:14:17
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
半導(dǎo)體溫度老化試驗(yàn)箱是評(píng)估器件高溫可靠性的核心設(shè)備,選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括功率器件、集成電路的加速壽命測(cè)試,技術(shù)參數(shù)需符合IEC 60749-22及GJB 548B標(biāo)準(zhǔn)。采購(gòu)流程需嚴(yán)格遵循技術(shù)協(xié)議確認(rèn)、FAT/SAT驗(yàn)收及計(jì)量校準(zhǔn)環(huán)節(jié),避免因參數(shù)虛標(biāo)或安全設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致測(cè)試失效。
半導(dǎo)體溫度老化試驗(yàn)箱的核心價(jià)值在于通過高溫環(huán)境模擬加速器件失效,驗(yàn)證其長(zhǎng)期可靠性。選型時(shí)需優(yōu)先確認(rèn)溫度范圍(-70℃~+300℃)、控制精度(±0.5℃)、負(fù)載能力(單層承重≥5kg/m2)及安全聯(lián)鎖(超溫/過載自動(dòng)斷電)。行業(yè)實(shí)踐中,約32%的測(cè)試失效源于參數(shù)虛標(biāo)或安全設(shè)計(jì)缺陷(中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院,2025)。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 典型溫度范圍 | -70℃~+300℃(功率器件需≥200℃) |
| 控制精度要求 | ±0.5℃(IEC 60749-22標(biāo)準(zhǔn)) |
| 關(guān)鍵選型參數(shù) | 溫度均勻性、負(fù)載密度、安全聯(lián)鎖 |
| 主流廠商篩選 | ESPEC、CSZ、隆安(需查CNAS認(rèn)證) |
| 常見故障類型 | 加熱管老化、傳感器偏移、循環(huán)風(fēng)機(jī)卡滯 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 行業(yè)要求 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作區(qū)各點(diǎn)溫差 | ≤±2℃ | IEC 60749-22 |
| 溫度波動(dòng)度 | 設(shè)定值瞬時(shí)偏差 | ≤±0.5℃ | GJB 548B |
| 升溫速率 | 室溫→最高溫時(shí)間 | 5℃/min | AEC-Q100 |
| 負(fù)載密度 | 單位面積承載質(zhì)量 | 3~5kg/m2 | JESD22-A113 |
致:XX廠商
需采購(gòu)半導(dǎo)體溫度老化試驗(yàn)箱1臺(tái),要求:
- 溫度范圍:-70℃~+250℃
- 均勻性:≤±1.5℃
- 負(fù)載能力:?jiǎn)螌印?kg
- 符合標(biāo)準(zhǔn):IEC 60749-22/GJB 548B
請(qǐng)?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及FAT驗(yàn)收流程。
| 廠商 | 溫度范圍 | 控制精度 | 容積選項(xiàng) | 安全聯(lián)鎖 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|
| ESPEC | -80℃~+300℃ | ±0.3℃ | 200L~2000L | 超溫?cái)嚯?/td> | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| CSZ | -70℃~+250℃ | ±0.5℃ | 150L~1500L | 門鎖聯(lián)鎖 | 數(shù)據(jù)追溯 |
| 隆安 | -60℃~+220℃ | ±0.8℃ | 100L~1000L | 急停按鈕 | 成本優(yōu)化 |
使用9點(diǎn)法測(cè)量工作區(qū)各角及中心點(diǎn)溫度,計(jì)算最大溫差。IEC 60749-22要求≤±2℃,實(shí)際測(cè)試需記錄30分鐘穩(wěn)定數(shù)據(jù)。
主要源于控制精度(±0.3℃ vs ±1℃)、加熱元件材質(zhì)(不銹鋼 vs 鎳鉻合金)、安全設(shè)計(jì)(單回路 vs 雙回路)及校準(zhǔn)服務(wù)。
每月清潔進(jìn)風(fēng)口濾網(wǎng),每季度檢查加熱管電阻值,每年更換循環(huán)風(fēng)機(jī)軸承。隆安技術(shù)團(tuán)隊(duì)建議建立維護(hù)檔案,記錄每次檢修數(shù)據(jù)。
1. 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 - 《半導(dǎo)體器件高溫老化測(cè)試規(guī)范》
2. IEEE - 《Power Electronics Temperature Cycling Guidelines》
3. AEC - Q100 Rev H - 《Automotive Electronics Reliability Standards》
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請(qǐng)您向我說明測(cè)試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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