

隆安
2025-12-04 08:37:31
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
平頂山兩相溫度沖擊試驗(yàn)箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備,選型需重點(diǎn)關(guān)注溫度范圍、控制精度、負(fù)載能力及安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)。用戶需結(jié)合GB/T 2423等標(biāo)準(zhǔn),通過技術(shù)協(xié)議明確參數(shù)邊界,避免低價(jià)陷阱。建議優(yōu)先選擇提供FAT/SAT驗(yàn)收流程及計(jì)量校準(zhǔn)服務(wù)的廠商,確保設(shè)備長期可靠性。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+200℃(典型) |
| 控制精度 | ±1℃(伺服控制) |
| 負(fù)載能力 | ≥50kg(金屬試樣) |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫/過載/門鎖保護(hù) |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423、IEC 60068 |
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間 | 高溫區(qū)→低溫區(qū)切換耗時(shí) | ≤10s | 試樣熱應(yīng)力不均 |
| 溫度均勻性 | 工作室內(nèi)溫差 | ±2℃ | 測試數(shù)據(jù)偏差 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 | 瞬態(tài)過程丟失 |
致:XX廠商
需采購平頂山兩相溫度沖擊試驗(yàn)箱,要求:
1. 溫度范圍:-65℃~+150℃
2. 試樣尺寸:400×500×600mm
3. 符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.22-2012
4. 提供FAT/SAT驗(yàn)收方案及計(jì)量證書
請(qǐng)于3個(gè)工作日內(nèi)回復(fù)技術(shù)方案及報(bào)價(jià)。
| 標(biāo)準(zhǔn) | 測試方法 | 適用邊界 |
|---|---|---|
| GB/T 2423.22 | 兩箱法溫度沖擊 | 電子元器件 |
| IEC 60068-2-14 | 三箱法溫度沖擊 | 大型設(shè)備 |
| MIL-STD-810G | 快速溫變測試 | 軍用產(chǎn)品 |
| 品牌 | 溫度范圍 | 控制精度 | 附加特性 | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|
| A廠商 | -70℃~+200℃ | ±0.5℃ | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | 45萬~60萬 |
| B廠商 | -60℃~+180℃ | ±1.5℃ | 數(shù)據(jù)追溯 | 38萬~50萬 |
| C廠商 | -50℃~+150℃ | ±2℃ | 無 | 30萬~40萬 |
| 故障 | 原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度波動(dòng)大 | 傳感器老化 | 更換PT100探頭 |
| 轉(zhuǎn)換時(shí)間超標(biāo) | 制冷劑泄漏 | 檢漏并補(bǔ)充R404A |
| 門鎖報(bào)警 | 行程開關(guān)故障 | 調(diào)整微動(dòng)開關(guān)位置 |
| 項(xiàng)目 | 周期 | 內(nèi)容 |
|---|---|---|
| 日常 | 每次使用后 | 清潔冷凝器濾網(wǎng) |
| 月度 | 每月 | 檢查制冷劑壓力 |
| 年度 | 每年 | 校準(zhǔn)溫度傳感器 |
兩箱式通過移動(dòng)試樣實(shí)現(xiàn)溫度切換,轉(zhuǎn)換時(shí)間更短(≤10s),適合小試樣;三箱式固定試樣,通過風(fēng)門控制溫度,適合大型設(shè)備。
核心差異在于控制精度(伺服系統(tǒng)成本高30%以上)、安全設(shè)計(jì)(聯(lián)鎖裝置數(shù)量)及售后服務(wù)(是否包含現(xiàn)場校準(zhǔn))。
要求提供同類客戶案例(如航天科工集團(tuán)2025年采購記錄)、設(shè)備CNAS校準(zhǔn)證書及FAT/SAT驗(yàn)收?qǐng)?bào)告。
檢查制冷壓縮機(jī)是否頻繁啟停(可能是冷凝器臟堵),或制冷劑充注量不足(需稱重補(bǔ)加)。
正常使用下(每日工作8小時(shí))約8~10年,關(guān)鍵部件(如壓縮機(jī))建議5年更換。
引用機(jī)構(gòu):中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)白皮書(2025版)》
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請(qǐng)您向我說明測試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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