

隆安
2025-12-08 08:43:50
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價更優(yōu)! 馬上咨詢
廣州小型恒溫恒濕試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備,選型需關(guān)注溫度/濕度范圍、控制精度、容積匹配性及安全聯(lián)鎖功能。建議優(yōu)先選擇符合GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)、提供FAT/SAT驗收流程的廠商,避免低價低質(zhì)產(chǎn)品。技術(shù)參數(shù)需與試樣負(fù)載、測試周期嚴(yán)格匹配,采購后需定期校準(zhǔn)維護(hù)。
| 核心參數(shù) | 推薦值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃~+180℃(典型值) |
| 濕度范圍 | 10%~98%RH(可選) |
| 控制精度 | ±0.5℃(溫度),±2%RH(濕度) |
| 容積選項 | 100L~500L(小型設(shè)備) |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 2423, IEC 60068 |
詢價模板示例:
致:XX廠商
需采購小型恒溫恒濕試驗箱1臺,技術(shù)要求如下:
1. 溫度范圍:-40℃~+150℃
2. 濕度范圍:20%~95%RH
3. 容積:300L(內(nèi)尺寸≥600×500×500mm)
4. 控制精度:±1℃(溫度),±3%RH(濕度)
5. 符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.22-2012
請?zhí)峁﹫髢r、交貨期及FAT/SAT驗收方案。
| 參數(shù) | 說明 | 典型失效機(jī)理 |
|---|---|---|
| 溫度均勻性 | ≤±2℃(空載) | 加熱管老化導(dǎo)致局部過熱 |
| 濕度波動度 | ≤±5%RH | 加濕器結(jié)垢影響蒸汽輸出 |
| 采樣率 | ≥1次/秒 | 低采樣率導(dǎo)致控制滯后 |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫自動斷電 | 傳感器故障引發(fā)火災(zāi)風(fēng)險 |
適用標(biāo)準(zhǔn)邊界:
| 廠商 | 溫度范圍 | 控制精度 | 附加特性 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|
| 廣州XX儀器 | -70℃~+180℃ | ±0.3℃ | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | ¥85,000~120,000 |
| 深圳YY科技 | -40℃~+150℃ | ±1℃ | 數(shù)據(jù)追溯 | ¥65,000~90,000 |
| 東莞ZZ設(shè)備 | -20℃~+100℃ | ±2℃ | 無 | ¥45,000~70,000 |
| 故障現(xiàn)象 | 可能原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 溫度失控 | 固態(tài)繼電器損壞 | 更換SSR并校準(zhǔn)PID參數(shù) |
| 濕度偏低 | 加濕管堵塞 | 清洗加濕管并更換純凈水 |
| 壓縮機(jī)停機(jī) | 冷媒泄漏 | 檢漏補(bǔ)漏并重新充注R404A |
維護(hù)周期表:
Q1:如何選擇設(shè)備容積?
A1:試樣總體積應(yīng)≤設(shè)備容積的1/3,例如測試10個200×150×50mm的PCB板,需選擇≥300L的設(shè)備(計算:10×0.2×0.15×0.05=0.015m3,設(shè)備容積需≥0.045m3)。
Q2:伺服控制與液壓控制有何區(qū)別?
A2:伺服控制通過電機(jī)驅(qū)動風(fēng)門調(diào)節(jié)溫濕度,精度高但負(fù)載小(≤50kg);液壓控制通過油壓驅(qū)動,適合大負(fù)載(≥100kg)但精度較低(±2℃)。
Q3:設(shè)備校準(zhǔn)周期如何確定?
A3:根據(jù)JJF 1101-2019《環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度參數(shù)校準(zhǔn)規(guī)范》,建議每12個月校準(zhǔn)一次,關(guān)鍵測試場景可縮短至6個月。
Q4:進(jìn)口設(shè)備與國產(chǎn)設(shè)備如何選擇?
A4:進(jìn)口設(shè)備(如德國Binder)精度更高(±0.1℃),但價格是國產(chǎn)的2~3倍;國產(chǎn)設(shè)備(如廣州XX)可滿足大多數(shù)工業(yè)需求,且維保成本低40%。
Q5:設(shè)備運行噪音標(biāo)準(zhǔn)是多少?
A5:根據(jù)GB/T 14574-2000,設(shè)備1米處噪音應(yīng)≤65dB(A),超過需加裝消音罩或選擇低噪音壓縮機(jī)。
外部參考:中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)白皮書》(2025版)
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