上海試驗(yàn)箱報(bào)價(jià),上海試驗(yàn)箱價(jià)格全覽

隆安
2025-12-10 09:08:49
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內(nèi)容摘要：上海試驗(yàn)箱報(bào)價(jià)受溫度范圍、容積、控制精度等參數(shù)影響，典型價(jià)格區(qū)間為5萬-50萬元。選型需結(jié)合測試需求（如IEC 60068-2-2高溫老化標(biāo)準(zhǔn)）、負(fù)載類型及安全聯(lián)鎖要求。...

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上海試驗(yàn)箱報(bào)價(jià)受溫度范圍、容積、控制精度等參數(shù)影響，典型價(jià)格區(qū)間為5萬-50萬元。選型需結(jié)合測試需求（如IEC 60068-2-2高溫老化標(biāo)準(zhǔn)）、負(fù)載類型及安全聯(lián)鎖要求。建議通過技術(shù)協(xié)議明確驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，優(yōu)先選擇符合GB/T 2423系列且提供FAT/SAT的廠商，避免低價(jià)陷阱。

快速答案卡片

參數(shù)	典型值
溫度范圍	常溫~300℃（高溫老化）
容積選項(xiàng)	100L~2000L
控制精度	±1℃（IEC 60068-2-2要求）
價(jià)格區(qū)間	5萬~50萬元
核心標(biāo)準(zhǔn)	GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2

上海試驗(yàn)箱選型與報(bào)價(jià)核心參數(shù)

試驗(yàn)箱選型需圍繞測試目的（如材料高溫老化、電子元件壽命測試）明確關(guān)鍵參數(shù)：

負(fù)載類型：金屬試樣需更高升溫速率（如5℃/min），塑料試樣需控制揮發(fā)物影響。
試樣尺寸：容積需滿足最大試樣排列（如1000L箱可放置20個(gè)300mm×300mm電路板）。
控制精度：IEC 60068-2-2要求高溫試驗(yàn)時(shí)溫度偏差≤±2℃，分辨率0.1℃。
安全聯(lián)鎖：超溫保護(hù)（如150℃時(shí)自動(dòng)斷電）、門鎖互鎖（運(yùn)行中無法開啟）。

參數(shù)解釋表

參數(shù)	定義	典型值	失效影響
采樣率	溫度數(shù)據(jù)采集頻率	1次/秒	采樣率低導(dǎo)致溫度波動(dòng)記錄缺失
均勻性	工作室內(nèi)溫差	≤±2℃	試樣受熱不均引發(fā)測試偏差
升溫速率	空載時(shí)溫度上升速度	3~10℃/min	速率過快導(dǎo)致試樣內(nèi)部應(yīng)力集中

典型型號(hào)技術(shù)對(duì)比表

型號(hào)	溫度范圍	濕度范圍	容積(L)	控制精度	符合標(biāo)準(zhǔn)	附加特性
HT-100A	RT~150℃	20%~98%RH	100	±1℃	GB/T 2423.2	USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出
HT-500B	RT~300℃	不適用	500	±1.5℃	IEC 60068-2-2	超溫報(bào)警
HT-2000C	RT~200℃	30%~80%RH	2000	±2℃	MIL-STD-810G	遠(yuǎn)程監(jiān)控

廠商選擇與采購流程

選型決策流程

明確測試標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 2423.2-2008高溫試驗(yàn)方法）。
計(jì)算負(fù)載體積（試樣總體積≤工作室容積的1/3）。
驗(yàn)證廠商資質(zhì)（如CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室、ISO 9001認(rèn)證）。
要求提供FAT（工廠驗(yàn)收測試）報(bào)告，重點(diǎn)檢查溫度均勻性。

詢價(jià)模板

“需采購1臺(tái)高溫試驗(yàn)箱，溫度范圍RT~250℃，容積800L，控制精度±1℃，符合IEC 60068-2-2。請(qǐng)?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及FAT/SAT計(jì)劃?！?

常見故障與維護(hù)要點(diǎn)

故障現(xiàn)象	可能原因	解決方案
升溫緩慢	加熱管老化、接觸器故障	更換加熱管（功率需匹配原型號(hào)）
溫度波動(dòng)大	傳感器校準(zhǔn)失效、通風(fēng)不暢	重新校準(zhǔn)傳感器（使用Fluke 724）
超溫報(bào)警	溫控儀參數(shù)錯(cuò)誤、散熱風(fēng)扇停轉(zhuǎn)	檢查PID參數(shù)（P=50, I=300, D=10）