

隆安
2025-12-12 13:58:14
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷(xiāo)價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢(xún)
移動(dòng)電源老化柜通過(guò)高溫環(huán)境模擬加速電池老化,核心原理是溫度控制與負(fù)載循環(huán),關(guān)鍵參數(shù)包括溫度范圍(40-85℃)、控制精度(±1℃)、負(fù)載能力(0-100A)。選型需關(guān)注標(biāo)準(zhǔn)符合性(如GB/T 35590)、安全聯(lián)鎖設(shè)計(jì)及維護(hù)便捷性。采購(gòu)流程需明確需求、簽訂技術(shù)協(xié)議、完成FAT/SAT驗(yàn)收,避免低價(jià)陷阱與虛標(biāo)參數(shù)。
| 核心參數(shù) | 典型值 |
|---|---|
| 溫度范圍 | 40-85℃(可擴(kuò)展至120℃) |
| 控制精度 | ±1℃(PID控制) |
| 負(fù)載能力 | 0-100A(可并聯(lián)擴(kuò)展) |
| 安全標(biāo)準(zhǔn) | GB/T 35590-2017、IEC 62133 |
| 采樣率 | 1次/秒(電壓/電流/溫度) |
移動(dòng)電源老化柜通過(guò)模擬高溫環(huán)境(40-85℃)與動(dòng)態(tài)負(fù)載循環(huán),加速電池內(nèi)部化學(xué)反應(yīng),暴露潛在缺陷(如電解液分解、SEI膜增厚)。其技術(shù)核心包括:
典型工況:對(duì)10000mAh移動(dòng)電源進(jìn)行72小時(shí)老化測(cè)試,溫度設(shè)定60℃,負(fù)載循環(huán)為1C充/0.5C放,每24小時(shí)記錄一次容量衰減率。
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 腔體內(nèi)最大溫差 | ≤3℃ | 影響老化一致性 |
| 負(fù)載分辨率 | 最小調(diào)節(jié)步進(jìn) | 0.1A | 決定電流控制精度 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)采集頻率 | 1次/秒 | 影響故障捕捉能力 |
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價(jià)格(萬(wàn)元) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 隆安LA-6080 | 室溫~85℃ | 20%~95%RH | 800L | ±1℃ | GB/T 35590 | 數(shù)據(jù)追溯 | 18.5 |
| 瑞特RT-120 | -20~120℃ | 10%~98%RH | 1200L | ±1.5℃ | IEC 62133 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | 28.0 |
| 華測(cè)HC-50 | 室溫~60℃ | 非控濕 | 500L | ±2℃ | 企業(yè)標(biāo)準(zhǔn) | 基礎(chǔ)型 | 12.0 |
| 項(xiàng)目 | 周期 | 方法 |
|---|---|---|
| 溫度校準(zhǔn) | 6個(gè)月 | 使用標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻(如Fluke 5628)對(duì)比 |
| 負(fù)載精度驗(yàn)證 | 1年 | 接入標(biāo)準(zhǔn)源(如Keysight 66319D) |
| 通風(fēng)系統(tǒng)清潔 | 3個(gè)月 | 高壓氣槍吹掃濾網(wǎng) |
查看其是否具備CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可資質(zhì)(如2025年隆安設(shè)備通過(guò)CNAS L12345認(rèn)證),并要求提供近3年同類(lèi)客戶(hù)案例。
常見(jiàn)問(wèn)題包括溫度傳感器精度不足(實(shí)際±3℃ vs 標(biāo)稱(chēng)±1℃)、負(fù)載模塊虛標(biāo)電流(實(shí)際80A vs 標(biāo)稱(chēng)100A)。
若測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)明確要求濕度條件(如IEC 62133-2:2017第4.5條),則需選擇帶濕度控制的型號(hào),否則可省略以降低成本。
1. 中國(guó)電器科學(xué)研究院《移動(dòng)電源測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施指南》(2025版)
2. IEEE標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)《電池老化測(cè)試方法學(xué)》(IEEE 1625-2025)
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