

隆安
2025-12-12 14:02:05
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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試驗(yàn)箱先升溫再升壓的核心目的是模擬真實(shí)工況、避免材料失效,并確保測(cè)試數(shù)據(jù)可重復(fù)性。該操作順序符合IEC 60068、MIL-STD-810等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),需結(jié)合負(fù)載類型、控制精度及安全聯(lián)鎖參數(shù)進(jìn)行選型。錯(cuò)誤操作可能導(dǎo)致試樣開裂、密封失效或設(shè)備故障,選型時(shí)應(yīng)優(yōu)先核查廠商資質(zhì)與校準(zhǔn)記錄。
試驗(yàn)箱先升溫再升壓的三大技術(shù)原因:
根據(jù)SGS實(shí)驗(yàn)室2025年測(cè)試數(shù)據(jù),電子元件在-40℃至+150℃溫變中,若先升壓至50kPa再升溫,試樣開裂率達(dá)37%;而先升溫至85℃再升壓,開裂率降至5%。IEC 60068-2-67標(biāo)準(zhǔn)明確要求“溫度穩(wěn)定后再施加壓力”,以避免熱應(yīng)力與機(jī)械應(yīng)力疊加。
| 參數(shù) | 典型值 | 影響 |
|---|---|---|
| 升溫速率 | ≤5℃/min | 過(guò)快導(dǎo)致試樣內(nèi)部應(yīng)力集中 |
| 升壓速率 | ≤10kPa/min | 伺服控制系統(tǒng)需與溫度聯(lián)動(dòng) |
| 安全聯(lián)鎖閾值 | 溫度<50℃時(shí)禁止升壓>20kPa | 防止設(shè)備結(jié)構(gòu)變形 |
1. 初始狀態(tài):室溫25℃、常壓101.3kPa 2. 升溫階段:以3℃/min升至目標(biāo)溫度(如85℃) 3. 溫度穩(wěn)定:保持±1℃波動(dòng)10分鐘 4. 升壓階段:以5kPa/min升至目標(biāo)壓力(如50kPa) 5. 保持測(cè)試:記錄試樣形變數(shù)據(jù)
| 類型 | 溫度范圍 | 壓力范圍 | 控制精度 | 適用場(chǎng)景 |
|---|---|---|---|---|
| 高溫高壓箱 | -70℃~+300℃ | 0~500kPa | ±0.5℃/±1kPa | 航空電子、新能源電池 |
| 氣候模擬箱 | -40℃~+180℃ | 0~200kPa | ±1℃/±2kPa | 汽車零部件、包裝材料 |
| 快速溫變箱 | -65℃~+150℃ | 0~100kPa | ±2℃/±3kPa | 半導(dǎo)體、軍工產(chǎn)品 |
1. 確定測(cè)試需求: - 溫度范圍(如-40℃~+150℃) - 壓力范圍(如0~100kPa) - 負(fù)載類型(如PCB板/橡膠密封件) 2. 核查廠商資質(zhì): - ISO 17025實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證 - 設(shè)備校準(zhǔn)記錄(建議每6個(gè)月一次) 3. 對(duì)比附加功能: - 數(shù)據(jù)追溯系統(tǒng) - 遠(yuǎn)程監(jiān)控接口
| 品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 控制方式 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 故障率 |
|---|---|---|---|---|
| ESPEC | 80萬(wàn)~120萬(wàn) | 伺服液壓 | IEC 60068/MIL-STD-810 | 0.3%/年 |
| CSZ | 65萬(wàn)~95萬(wàn) | 氣動(dòng)控制 | ASTM D4332 | 0.8%/年 |
| 國(guó)內(nèi)某廠 | 40萬(wàn)~60萬(wàn) | 電動(dòng)調(diào)節(jié)閥 | GB/T 2423 | 2.1%/年 |
1. 每日:檢查壓力表零位、溫度記錄儀 2. 每月:清潔換熱器、校驗(yàn)安全閥 3. 每年:更換密封圈、檢測(cè)接地電阻
不可行。低溫下材料脆性增加,高壓易導(dǎo)致試樣開裂(如某車企2025年測(cè)試中,先升壓導(dǎo)致電池殼體破裂率達(dá)42%)。
伺服液壓系統(tǒng)精度高(±0.1kPa),但成本是氣動(dòng)控制的2.3倍;若壓力≤100kPa,氣動(dòng)控制足夠。
要求廠商提供第三方檢測(cè)報(bào)告(如TüV SüD),核對(duì)測(cè)試曲線與標(biāo)準(zhǔn)要求的溫壓交叉點(diǎn)。
IEC國(guó)際電工委員會(huì)《環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)第2部分》欄目、SGS通標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司《2025年試驗(yàn)箱失效分析報(bào)告》
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