

隆安
2025-12-12 14:11:09
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泰利試驗箱是高溫老化環(huán)境測試的核心設備,選型需重點關注溫度范圍、控制精度、容積匹配性及安全聯(lián)鎖功能。典型應用場景包括電子元器件、汽車零部件、航空航天材料的長期可靠性驗證,需遵循IEC 60068、MIL-STD-810等國際標準。采購流程需覆蓋技術協(xié)議確認、FAT/SAT測試、計量校準等關鍵環(huán)節(jié),避免因參數(shù)虛標或維護缺失導致測試失效。
| 核心問題 | 答案 |
|---|---|
| 泰利試驗箱溫度范圍 | -70℃~+300℃(常規(guī)型號) |
| 典型控制精度 | ±0.5℃(溫度)、±2%RH(濕度) |
| 安全聯(lián)鎖功能 | 超溫報警、斷電保護、門鎖互鎖 |
| 關鍵標準 | IEC 60068-2-1、MIL-STD-810G、GB/T 2423 |
| 基礎價格區(qū)間 | 8萬~50萬元(依配置浮動) |
| 參數(shù) | 定義 | 重要性 | 典型值 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作空間內各點溫差 | ★★★★★ | ≤2℃ |
| 升溫速率 | 室溫至最高溫耗時 | ★★★☆☆ | 3~10℃/min |
| 負載能力 | 最大可放置試樣質量 | ★★★★☆ | 50~500kg |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | ★★★☆☆ | 1次/秒~1次/10秒 |
致:泰利試驗箱供應商
需采購高溫老化箱1臺,要求:
- 溫度范圍:RT+10℃~+200℃
- 均勻性:≤±1.5℃
- 容積:≥0.5m3
- 符合標準:IEC 60068-2-2
請?zhí)峁┘夹g方案、報價及FAT測試計劃。
應用場景:IC芯片、電容、連接器的高溫偏置測試(HTOL)。
失效機理:金屬遷移、介電擊穿、焊點蠕變。
標準條款:JESD22-A108(高溫工作壽命測試)。
應用場景:線束、傳感器、電池包的熱沖擊測試。
失效機理:密封件老化、塑料變形、導電性能衰減。
標準條款:ISO 16750-4(道路車輛電氣電子設備環(huán)境條件)。
應用場景:復合材料、密封膠的高溫持久性能驗證。
失效機理:基體分解、纖維脫粘、熱膨脹失配。
標準條款:RTCA DO-160(機載設備環(huán)境條件)。
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 標準 | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| TL-80A | -40℃~+150℃ | 10%~98%RH | 0.2m3 | ±1℃ | GB/T 2423 | USB數(shù)據(jù)導出 |
| TL-200B | -70℃~+300℃ | 5%~95%RH | 0.8m3 | ±0.5℃ | IEC 60068 | 遠程監(jiān)控 |
| TL-500C | RT~+250℃ | 無濕度 | 2m3 | ±2℃ | MIL-STD-810 | 爆炸防護 |
| 階段 | 關鍵動作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認 | 明確測試標準、試樣尺寸、預算 | 技術需求書 |
| 技術協(xié)議 | 約定溫度范圍、均勻性、驗收標準 | 雙方簽字協(xié)議 |
| FAT測試 | 在供應商工廠進行空載/負載測試 | FAT報告 |
| 安裝驗收 | 現(xiàn)場溫度校準、安全聯(lián)鎖驗證 | 驗收證書 |
| 計量校準 | 每年一次第三方計量(推薦CNAS機構) | 校準證書 |
價格差異主要源于溫度范圍(-70℃機型成本是常溫機型的3倍)、控制精度(±0.1℃機型需進口控制器)及附加功能(如遠程監(jiān)控、爆炸防護)。
要求供應商提供符合性聲明(DoC),并核查標準條款覆蓋情況(如IEC 60068-2-1需包含升溫/降溫速率測試)。
常見故障包括加熱管燒毀(負載過大)、傳感器漂移(未定期校準)、冷凝器堵塞(環(huán)境粉塵多),需建立預防性維護計劃。
若測試需模擬真實環(huán)境(如汽車內飾件),需獨立控制;若僅做高溫老化,可簡化系統(tǒng)降低成本。
標準機型(如TL-80A)約4周;定制機型(如防爆設計)需8~12周,需提前規(guī)劃。
因老化試驗設備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術方案
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