

隆安
2025-12-18 08:56:24
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價(jià)格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價(jià)更優(yōu)! 馬上咨詢
| 核心問(wèn)題 | 關(guān)鍵答案 |
|---|---|
| 選型核心參數(shù) | 溫度范圍(-70℃~+300℃)、控制精度±0.5℃、負(fù)載能力≥500W |
| 必備標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-1(高溫)、GB/T 2423.2(環(huán)境試驗(yàn)) |
| 典型故障 | 溫度超調(diào)、傳感器漂移、安全聯(lián)鎖失效 |
| 維護(hù)周期 | 每3個(gè)月校準(zhǔn)傳感器,每6個(gè)月更換過(guò)濾器 |
| 采購(gòu)陷阱 | 虛標(biāo)溫度均勻性、忽略安全認(rèn)證(CE/UL) |
電路分析試驗(yàn)箱在高溫老化測(cè)試中主要用于模擬極端環(huán)境,驗(yàn)證電子元器件、PCB板的可靠性。其核心參數(shù)直接影響測(cè)試結(jié)果的可信度:
參數(shù)解釋表
| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 測(cè)試影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 箱內(nèi)各點(diǎn)溫差 | ≤2℃ | 影響老化一致性 |
| 升溫速率 | 室溫至最高溫時(shí)間 | 5℃/min | 縮短測(cè)試周期 |
| 采樣率 | 數(shù)據(jù)記錄頻率 | 1次/秒 | 捕捉瞬態(tài)故障 |
選型五步法
詢價(jià)模板
致XX廠商:
我方需采購(gòu)電路分析試驗(yàn)箱,要求如下:
1. 溫度范圍:-40℃~+150℃
2. 容積:≥0.5m3
3. 符合標(biāo)準(zhǔn):IEC 60068-2-1
請(qǐng)?zhí)峁┘夹g(shù)方案、報(bào)價(jià)及交貨期。
| 型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 控制精度 | 附加特性 | 價(jià)格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|
| ESPEC SH-241 | -70℃~+180℃ | 10%~98%RH | ±0.3℃ | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 | ¥45萬(wàn)~60萬(wàn) |
| CSZ HTE-1200 | -40℃~+300℃ | 不支持 | ±1℃ | 爆炸防護(hù) | ¥80萬(wàn)~120萬(wàn) |
| 國(guó)產(chǎn)HT-800 | -20℃~+150℃ | 20%~80%RH | ±2℃ | 無(wú) | ¥15萬(wàn)~25萬(wàn) |
紅牌廠商特征
綠牌廠商特征
| 階段 | 關(guān)鍵動(dòng)作 | 交付物 |
|---|---|---|
| 需求確認(rèn) | 與研發(fā)、質(zhì)量部門(mén)會(huì)審測(cè)試大綱 | 《測(cè)試需求規(guī)格書(shū)》 |
| 技術(shù)協(xié)議 | 明確溫度波動(dòng)度、恢復(fù)時(shí)間等指標(biāo) | 《技術(shù)協(xié)議書(shū)》 |
| FAT驗(yàn)收 | 在廠商工廠進(jìn)行滿負(fù)荷運(yùn)行測(cè)試 | 《FAT測(cè)試報(bào)告》 |
| SAT驗(yàn)收 | 模擬實(shí)際工況進(jìn)行72小時(shí)連續(xù)測(cè)試 | 《SAT驗(yàn)收證書(shū)》 |
| 計(jì)量校準(zhǔn) | 每年送至CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn) | 《校準(zhǔn)證書(shū)》 |
Q1:如何判斷設(shè)備溫度均勻性是否達(dá)標(biāo)?
A1:使用9點(diǎn)溫濕度記錄儀,在空載和滿載狀態(tài)下分別測(cè)試。根據(jù)IEC 60068-2-1,空載時(shí)箱內(nèi)任意兩點(diǎn)溫差應(yīng)≤2℃。
Q2:設(shè)備報(bào)警“過(guò)溫保護(hù)”如何處理?
A2:立即切斷電源,檢查加熱管是否短路、溫控儀參數(shù)是否被誤修改?;謴?fù)前需用紅外測(cè)溫儀驗(yàn)證實(shí)際溫度。
Q3:進(jìn)口設(shè)備與國(guó)產(chǎn)設(shè)備的核心差異?
A3:進(jìn)口設(shè)備在長(zhǎng)期穩(wěn)定性(MTBF>5000小時(shí))和材料耐腐蝕性上更優(yōu),但國(guó)產(chǎn)設(shè)備交付周期短(4~6周 vs 進(jìn)口12~16周)。
外部專業(yè)來(lái)源:中國(guó)電器科學(xué)研究院-環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)專欄、IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
因老化試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請(qǐng)您向我說(shuō)明測(cè)試要求,我們將為您1對(duì)1定制技術(shù)方案
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