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2025-12-19 08:52:22
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清遠鹽霧腐蝕試驗箱SH是高溫老化環(huán)境測試中驗證材料耐蝕性的核心設備,選型需重點關注溫度/濕度范圍、控制精度、容積及標準符合性。工程師需通過技術協(xié)議明確參數(shù)、驗收標準,避免因設備精度不足或維護缺失導致測試失效。采購需遵循需求確認→技術協(xié)議→FAT/SAT→計量校準的全流程管控。
清遠鹽霧腐蝕試驗箱SH是針對金屬、涂層、電子元件等材料在高溫高濕鹽霧環(huán)境下的耐蝕性驗證設備,其核心價值在于模擬海洋、工業(yè)等腐蝕場景,加速材料失效過程。選型時需優(yōu)先確認溫度范圍(-20℃~+85℃)、濕度控制(20%~98%RH)、鹽霧沉降量(1~5ml/80cm2/h)等關鍵參數(shù),避免因設備精度不足導致測試數(shù)據(jù)失真。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 清遠鹽霧腐蝕試驗箱SH選型核心參數(shù) | 溫度范圍、濕度控制、鹽霧沉降量、容積、標準符合性(如GB/T 2423.17) |
| 典型價格區(qū)間 | 經濟型(3-8萬元)、中端型(8-15萬元)、高端型(15-30萬元) |
| 關鍵維護周期 | 鹽溶液更換(每周)、噴嘴清洗(每月)、傳感器校準(每半年) |
| 常見故障 | 鹽霧不均勻(噴嘴堵塞)、溫度波動(加熱管老化)、濕度失控(傳感器失效) |
| 參數(shù) | 技術要求 | 失效影響 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | -20℃~+85℃(±1℃) | 溫度超差導致腐蝕速率失真 |
| 濕度控制 | 20%~98%RH(±3%RH) | 濕度不足影響鹽霧凝結 |
| 鹽霧沉降量 | 1~5ml/80cm2/h(可調) | 沉降量偏差導致測試周期錯誤 |
| 容積選項 | 80L~2000L(按試樣尺寸選) | 容積不足導致試樣擺放密集,影響均勻性 |
| 控制方式 | PLC+觸摸屏(伺服控制優(yōu)先) | 手動控制易引發(fā)操作誤差 |
致:XX廠商
需采購清遠鹽霧腐蝕試驗箱SH,要求如下:
1. 溫度范圍:-20℃~+70℃,精度±0.5℃
2. 濕度范圍:20%~95%RH,精度±2%RH
3. 鹽霧沉降量:1.5±0.3ml/80cm2/h
4. 容積:500L(試樣架可調)
5. 符合標準:GB/T 2423.17-2008
6. 附加功能:USB數(shù)據(jù)導出、故障報警
請?zhí)峁┘夹g方案、報價及交貨期。
| 品牌/型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標準 | 附加特性 | 價格區(qū)間 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 清遠SH-500 | -20℃~+70℃ | 20%~95%RH | 500L | ±0.5℃/±2%RH | GB/T 2423.17 | 數(shù)據(jù)記錄、故障報警 | 12-18萬元 |
| 進口品牌A | -40℃~+85℃ | 10%~98%RH | 800L | ±0.3℃/±1.5%RH | ASTM B117 | 遠程監(jiān)控、自動除霧 | 25-35萬元 |
| 國產經濟型 | 0℃~+50℃ | 30%~95%RH | 200L | ±2℃/±5%RH | 企業(yè)標準 | 手動控制 | 5-8萬元 |
| 故障現(xiàn)象 | 原因 | 解決方案 |
|---|---|---|
| 鹽霧不均勻 | 噴嘴堵塞、空氣壓力不足 | 清洗噴嘴、調整空壓機壓力至0.7MPa |
| 溫度波動大 | 加熱管老化、傳感器偏移 | 更換加熱管、重新校準傳感器 |
| 濕度顯示異常 | 濕球紗布干燥、水箱缺水 | 更換紗布、檢查水箱液位 |
| 維護項目 | 周期 | 操作要點 |
|---|---|---|
| 鹽溶液更換 | 每周 | 使用分析純NaCl(5%±0.1%濃度) |
| 噴嘴清洗 | 每月 | 用軟毛刷清除結晶,避免硬物刮擦 |
| 傳感器校準 | 每半年 | 聯(lián)系計量機構進行溫度/濕度校準 |
A:SH系列增加高溫老化功能(如+70℃),可模擬熱帶海洋環(huán)境,而普通箱僅支持常溫鹽霧測試(如+35℃)。
A:按試樣最大尺寸計算,試樣架間距需≥50mm,推薦容積=試樣總體積×3。例如:20個100mm×100mm試樣,需≥200L設備。
A:需CNAS(中國合格評定國家認可委員會)認證的計量機構,校準報告需包含溫度、濕度、鹽霧沉降量三項數(shù)據(jù)。
A:濃度每升高1%,腐蝕速率增加約15%(基于5%NaCl基準),需使用精密濃度計(分辨率0.01%)定期檢測。
A:70%故障源于維護缺失(如未清洗噴嘴、未更換濾芯),20%源于操作不當(如超參數(shù)運行),10%源于部件老化。
參考文獻:中國計量科學研究院《環(huán)境試驗設備校準規(guī)范》、全國電工電子產品環(huán)境條件標準化技術委員會(SAC/TC8)
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