

隆安
2025-12-15 08:47:52
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老化房、試驗箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
隆安老化設(shè)備25生產(chǎn)廠家直銷價格,品質(zhì)售后雙保障,廠家直供價更優(yōu)! 馬上咨詢
思達(dá)試驗箱作為高溫老化環(huán)境測試的核心設(shè)備,其選型需基于負(fù)載容量、溫度均勻性、控制精度等關(guān)鍵參數(shù),并符合IEC 60068、GB/T 2423等國際/國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)。用戶需通過技術(shù)協(xié)議明確需求邊界,結(jié)合FAT/SAT驗收流程規(guī)避質(zhì)量風(fēng)險,避免因參數(shù)虛標(biāo)或服務(wù)缺失導(dǎo)致測試失效。
| 核心問題 | 答案 |
|---|---|
| 思達(dá)試驗箱選型關(guān)鍵參數(shù) | 溫度范圍(-70℃~+300℃)、均勻性±2℃、負(fù)載容量(50L~2000L)、控制方式(PID/模糊控制) |
| 典型應(yīng)用場景 | 電子元器件高溫老化、材料熱變形分析、軍工產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性驗證 |
| 國際/國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60068-2-2、GB/T 2423.2、MIL-STD-810G |
| 價格區(qū)間 | 基礎(chǔ)型(5萬~15萬)、高精度型(20萬~50萬)、定制型(50萬+) |
最小容積(L)= 長×寬×高×1.2(安全余量)| 參數(shù) | 定義 | 典型值 | 失效影響 |
|---|---|---|---|
| 溫度均勻性 | 工作室各點溫差 | ±1℃~±3℃ | 導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不可復(fù)現(xiàn) |
| 升溫速率 | 空載時從25℃到最高溫的時間 | 3℃/min~10℃/min | 影響熱應(yīng)力加載效率 |
| 分辨率 | 溫度顯示最小單位 | 0.1℃ | 低分辨率掩蓋溫度波動 |
| 標(biāo)準(zhǔn) | 適用場景 | 關(guān)鍵條款 |
|---|---|---|
| IEC 60068-2-2 | 電工電子產(chǎn)品高溫試驗 | 5.2條:溫度穩(wěn)定判定條件 |
| GB/T 2423.2 | 中國電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 | 6.3條:溫度容差±2℃ |
| 型號 | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積(L) | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| SD-800A | RT+10℃~+200℃ | 20%~98%RH | 800 | ±0.5℃ | IEC 60068 | USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出 |
| SD-1500H | -70℃~+300℃ | 10%~95%RH | 1500 | ±1℃ | MIL-STD-810G | 遠(yuǎn)程監(jiān)控 |
| SD-2000C | RT+10℃~+180℃ | 不支持 | 2000 | ±2℃ | GB/T 2423 | 多段程序控制 |
致:思達(dá)試驗箱供應(yīng)商 請?zhí)峁┮韵滦吞枅髢r及技術(shù)參數(shù): 1. 型號:SD-1500H 2. 溫度范圍:-70℃~+300℃ 3. 負(fù)載容量:1500L(試樣尺寸≤1200×800×600mm) 4. 交付周期:合同簽訂后60天內(nèi) 5. 質(zhì)保期:≥2年 6. 附件:溫度均勻性測試報告(9點法)、PID控制算法說明
價格差異主要源于控制精度(±0.5℃ vs ±2℃)、加熱元件材質(zhì)(鎳鉻合金 vs 鐵鉻鋁)、安全聯(lián)鎖功能完整性。低價設(shè)備可能省略超溫保護或數(shù)據(jù)記錄功能。
依據(jù)IEC 60068-2-2標(biāo)準(zhǔn),在空載狀態(tài)下,使用9點法(工作室中心及四角、中層四邊中點)測量溫度,最大溫差不得超過標(biāo)稱均勻性值的1.5倍。
日常維護:每周清潔風(fēng)道、檢查加熱管;季度維護:校準(zhǔn)溫度傳感器、潤滑門軸;年度維護:更換密封條、檢查制冷系統(tǒng)壓力。
部分型號支持(如SD-800A),但需確認(rèn)濕度范圍是否覆蓋需求(20%~98%RH)。濕熱試驗需額外配置加濕系統(tǒng),且控制精度通常為±3%RH。
要求供應(yīng)商提供第三方檢測報告(CMA/CNAS認(rèn)證),并在合同中明確違約條款(如溫度均勻性不達(dá)標(biāo)需無條件退貨)。
外部專業(yè)來源:中國電器科學(xué)研究院《環(huán)境試驗設(shè)備技術(shù)發(fā)展報告》
因老化試驗設(shè)備參數(shù)各異,為確保高效匹配需求,請您向我說明測試要求,我們將為您1對1定制技術(shù)方案
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